Alors que les dispositifs semi-conducteurs continuent d’évoluer vers des tranches plus fines, des structures plus fragiles et une densité d’intégration plus élevée, les technologies conventionnelles de découpe de tranches sont de plus en plus remises en question. Les dispositifs MEMS, les puces mémoire, les semi-conducteurs de puissance et les boîtiers ultra-fins exigent une résistance de puce plus élevée, une contamination minimale et une stabilité de rendement supérieure.
La technologie Stealth Dicing™ introduit une approche fondamentalement différente de la séparation des tranches. Contrairement au découpage par lame ou à l'ablation laser de surface, le Stealth Dicing utilise un processus de modification laser interne pour initier une fracture contrôlée au sein de la tranche. La tranche est ensuite séparée en appliquant une contrainte de traction externe, éliminant ainsi les dommages de surface, les débris et la perte de saignée.
Ce processus sec et sans contact offre des avantages significatifs en termes de rendement, de résistance, de propreté et d’efficacité de traitement, ce qui en fait une technologie clé pour la fabrication de semi-conducteurs de nouvelle génération.
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Le découpage en dés par lame utilise une lame diamantée rotative à grande vitesse pour couper physiquement la plaquette. Bien que largement adoptée dans l'industrie, cette approche mécanique présente plusieurs défis inhérents :
Les vibrations mécaniques introduisent une contrainte sur l'appareil
De l'eau de refroidissement est nécessaire, ce qui augmente le risque de contamination
L'écaillage se produit le long des bords coupés
La perte de saignée réduit la surface utilisable de la tranche
Les débris et les particules peuvent endommager les structures fragiles
Le rendement est limité par la qualité des bords
La vitesse de traitement est limitée par l'usure de la lame
Pour les dispositifs MEMS avancés ou les plaquettes ultra fines, ces problèmes deviennent encore plus critiques.
Le découpage par ablation laser concentre un faisceau laser sur la surface de la plaquette pour faire fondre et évaporer le matériau, formant ainsi des rainures qui séparent la plaquette.
Bien qu’il supprime le contact mécanique, il introduit des effets thermiques :
La zone affectée par la chaleur (ZAT) dégrade la résistance du matériau
La fusion superficielle peut endommager les couches métalliques
Les particules dispersées contaminent les appareils
Des processus de revêtement protecteur supplémentaires peuvent être nécessaires
La résistance des copeaux est réduite en raison du stress thermique
Le débit est limité par le taux d'enlèvement de matière
À mesure que la géométrie des appareils devient plus délicate, les méthodes de retrait basées sur la surface présentent des risques croissants.
Stealth Dicing fonctionne sur un principe physique complètement différent :modification interne au lieu d'enlèvement de matière de surface.
Le processus comprend deux étapes principales :
Processus d'irradiation laser (formation de couche SD)
Processus d'expansion (séparation contrôlée)
Un faisceau laser ayant une longueur d'onde capable de pénétrer dans le matériau de la tranche est focalisé à l'intérieur de la tranche plutôt que sur sa surface.
Au point focal, une couche modifiée est créée au sein de la structure cristalline. Cette région interne modifiée est appelée laCouche de dés furtive (couche SD).
Principales caractéristiques :
Pas d'ablation de surface
Aucun enlèvement de matière
Initiation de micro-fissures internes
Propagation contrôlée des fissures le long des lignes de découpe planifiées
Les fissures s'étendent de la couche SD vers les surfaces supérieure et inférieure. En balayant le laser le long du chemin de coupe prévu, un plan de fracture interne continu est formé.
Pour les tranches épaisses ou les dispositifs MEMS, plusieurs couches SD peuvent être créées dans le sens de l'épaisseur pour garantir un contrôle complet de la séparation.
En fonction de l'épaisseur de la tranche, de la structure du dispositif et de la présence du film métallique, différentes configurations de couches SD sont utilisées :
| Mode | Description | Statut de fissure |
|---|---|---|
| ST (Furtif) | La fissure reste interne | N'atteint pas les surfaces |
| HC (demi-coupe) | La fissure atteint la surface supérieure | Séparation partielle |
| BHC (moitié inférieure coupée) | La fissure atteint la surface inférieure | Séparation par le bas |
| FC (coupe complète) | La fissure pénètre dans les deux surfaces | Séparation complète |
En sélectionnant et en combinant ces modes, des conditions de traitement optimales peuvent être obtenues pour diverses structures semi-conductrices.
Après la formation de la couche SD, la plaquette est montée sur du ruban d'expansion. Le ruban est étiré radialement vers l'extérieur.
La contrainte de traction appliquée provoque l'extension naturelle des fissures internes aux surfaces des plaquettes, séparant les puces individuelles.
La séparation se produit par propagation contrôlée des fissures plutôt que par enlèvement de matière.
Cela offre plusieurs avantages :
Aucun impact mécanique sur les appareils
Pas de stress thermique
Pas d'écaillage
Aucune génération de débris
Aucune perte de saignée
Stealth Dicing résout fondamentalement les problèmes associés au découpage par lame et par ablation.
Contrairement au découpage en dés à lame, aucune eau de refroidissement n’est nécessaire. Cela élimine :
Contamination de l'eau
Re-dépôt de particules
Processus de séchage
Étapes de nettoyage secondaires
Le processus est propre et respectueux de l’environnement.
La découpe traditionnelle enlève de la matière pour créer une rue découpée en dés. Cela réduit la surface utilisable de la tranche.
Stealth Dicing forme un plan de fracture interne sans enlever de matière, ce qui signifie :
Utilisation maximale des plaquettes
Nombre de puces plus élevé par tranche
Rentabilité améliorée
Parce qu’il n’y a pas de meulage ni de fusion superficielle :
Pas d'écaillage des bords
Aucune zone affectée par la chaleur
Aucune dégradation de la résistance
Résistance à la flexion supérieure
Ceci est particulièrement important pour les plaquettes ultrafines inférieures à 50 μm.
En éliminant les débris, les contraintes et les dommages thermiques :
La fiabilité de l'appareil s'améliore
Le rendement augmente
Les structures fragiles de la membrane MEMS restent intactes
Les métaux et les films de protection ne sont pas affectés
Les systèmes optiques avancés tels que le Laser Beam Adjuster (LBA) améliorent la mise en forme et le débit du faisceau.
De plus, SDBG (Stealth Dicing Before Grinding) permet le traitement de dispositifs ultra-fins en formant la couche SD avant l'amincissement.
Ces avancées améliorent considérablement la productivité pour la fabrication en grand volume.
| Article | Découpe de lame | Découpage en dés par ablation | Dés furtifs™ |
|---|---|---|---|
| Méthode de traitement | Meulage mécanique | Élimination des surfaces au laser | Modification laser interne |
| Eau de refroidissement | Requis | Requis | Non requis |
| Écaillage | Se produit | Peut se produire | Ne se produit pas |
| Zone affectée par la chaleur | Non | Oui | Non |
| Débris | Oui | Oui | Non |
| Perte de saignée | Oui | Oui | Aucun |
| Résistance des copeaux | Réduit | Réduit | Haut |
| Rendement | Modéré | Modéré | Haut |
| Convient aux plaquettes ultra fines | Limité | Risqué | Excellent |
| Convient aux MEMS | Risque de dommages | Risque de contamination | Idéal |
Les dés furtifs sont largement utilisés dans :
Capteurs MEMS aux structures membranaires fragiles
Périphériques de mémoire NAND et DRAM
Dispositifs à semi-conducteurs de puissance
Dispositifs logiques CMOS
Appareils optiques
Plaquettes avec films métalliques ou protecteurs
Emballages ultra-fins (<50 μm)
Cette technologie est particulièrement avantageuse pour les appareils de grande valeur et structurellement sensibles.
À mesure que la fabrication de semi-conducteurs évolue vers :
Emballage avancé
Architectures de chipsets
Intégration haute densité
Empilage de matrices ultra fin
Matériaux à large bande interdite (SiC, GaN)
La séparation des tranches sans dommage devient de plus en plus critique.
Stealth Dicing se positionne comme une technologie clé dans le traitement des semi-conducteurs de nouvelle génération.
Sa nature de procédé à sec soutient également les initiatives de fabrication respectueuses de l'environnement en réduisant la consommation d'eau et la production de déchets.
Stealth Dicing™ représente un changement de paradigme dans la technologie de séparation des tranches.
En remplaçant la découpe mécanique et l'ablation de surface par une modification interne au laser et une fracture contrôlée par la contrainte, il élimine l'écaillage, les débris, les dommages thermiques et la perte de saignée.
Le résultat est :
Résistance aux copeaux plus élevée
Rendement amélioré
Un traitement plus propre
Meilleure adaptation aux appareils ultra-fins et fragiles
Efficacité de fabrication améliorée
Pour les fabricants de semi-conducteurs qui recherchent une plus grande fiabilité, de meilleures performances et une meilleure rentabilité, Stealth Dicing constitue une solution puissante et évolutive.
Alors que les dispositifs semi-conducteurs continuent d’évoluer vers des tranches plus fines, des structures plus fragiles et une densité d’intégration plus élevée, les technologies conventionnelles de découpe de tranches sont de plus en plus remises en question. Les dispositifs MEMS, les puces mémoire, les semi-conducteurs de puissance et les boîtiers ultra-fins exigent une résistance de puce plus élevée, une contamination minimale et une stabilité de rendement supérieure.
La technologie Stealth Dicing™ introduit une approche fondamentalement différente de la séparation des tranches. Contrairement au découpage par lame ou à l'ablation laser de surface, le Stealth Dicing utilise un processus de modification laser interne pour initier une fracture contrôlée au sein de la tranche. La tranche est ensuite séparée en appliquant une contrainte de traction externe, éliminant ainsi les dommages de surface, les débris et la perte de saignée.
Ce processus sec et sans contact offre des avantages significatifs en termes de rendement, de résistance, de propreté et d’efficacité de traitement, ce qui en fait une technologie clé pour la fabrication de semi-conducteurs de nouvelle génération.
![]()
Le découpage en dés par lame utilise une lame diamantée rotative à grande vitesse pour couper physiquement la plaquette. Bien que largement adoptée dans l'industrie, cette approche mécanique présente plusieurs défis inhérents :
Les vibrations mécaniques introduisent une contrainte sur l'appareil
De l'eau de refroidissement est nécessaire, ce qui augmente le risque de contamination
L'écaillage se produit le long des bords coupés
La perte de saignée réduit la surface utilisable de la tranche
Les débris et les particules peuvent endommager les structures fragiles
Le rendement est limité par la qualité des bords
La vitesse de traitement est limitée par l'usure de la lame
Pour les dispositifs MEMS avancés ou les plaquettes ultra fines, ces problèmes deviennent encore plus critiques.
Le découpage par ablation laser concentre un faisceau laser sur la surface de la plaquette pour faire fondre et évaporer le matériau, formant ainsi des rainures qui séparent la plaquette.
Bien qu’il supprime le contact mécanique, il introduit des effets thermiques :
La zone affectée par la chaleur (ZAT) dégrade la résistance du matériau
La fusion superficielle peut endommager les couches métalliques
Les particules dispersées contaminent les appareils
Des processus de revêtement protecteur supplémentaires peuvent être nécessaires
La résistance des copeaux est réduite en raison du stress thermique
Le débit est limité par le taux d'enlèvement de matière
À mesure que la géométrie des appareils devient plus délicate, les méthodes de retrait basées sur la surface présentent des risques croissants.
Stealth Dicing fonctionne sur un principe physique complètement différent :modification interne au lieu d'enlèvement de matière de surface.
Le processus comprend deux étapes principales :
Processus d'irradiation laser (formation de couche SD)
Processus d'expansion (séparation contrôlée)
Un faisceau laser ayant une longueur d'onde capable de pénétrer dans le matériau de la tranche est focalisé à l'intérieur de la tranche plutôt que sur sa surface.
Au point focal, une couche modifiée est créée au sein de la structure cristalline. Cette région interne modifiée est appelée laCouche de dés furtive (couche SD).
Principales caractéristiques :
Pas d'ablation de surface
Aucun enlèvement de matière
Initiation de micro-fissures internes
Propagation contrôlée des fissures le long des lignes de découpe planifiées
Les fissures s'étendent de la couche SD vers les surfaces supérieure et inférieure. En balayant le laser le long du chemin de coupe prévu, un plan de fracture interne continu est formé.
Pour les tranches épaisses ou les dispositifs MEMS, plusieurs couches SD peuvent être créées dans le sens de l'épaisseur pour garantir un contrôle complet de la séparation.
En fonction de l'épaisseur de la tranche, de la structure du dispositif et de la présence du film métallique, différentes configurations de couches SD sont utilisées :
| Mode | Description | Statut de fissure |
|---|---|---|
| ST (Furtif) | La fissure reste interne | N'atteint pas les surfaces |
| HC (demi-coupe) | La fissure atteint la surface supérieure | Séparation partielle |
| BHC (moitié inférieure coupée) | La fissure atteint la surface inférieure | Séparation par le bas |
| FC (coupe complète) | La fissure pénètre dans les deux surfaces | Séparation complète |
En sélectionnant et en combinant ces modes, des conditions de traitement optimales peuvent être obtenues pour diverses structures semi-conductrices.
Après la formation de la couche SD, la plaquette est montée sur du ruban d'expansion. Le ruban est étiré radialement vers l'extérieur.
La contrainte de traction appliquée provoque l'extension naturelle des fissures internes aux surfaces des plaquettes, séparant les puces individuelles.
La séparation se produit par propagation contrôlée des fissures plutôt que par enlèvement de matière.
Cela offre plusieurs avantages :
Aucun impact mécanique sur les appareils
Pas de stress thermique
Pas d'écaillage
Aucune génération de débris
Aucune perte de saignée
Stealth Dicing résout fondamentalement les problèmes associés au découpage par lame et par ablation.
Contrairement au découpage en dés à lame, aucune eau de refroidissement n’est nécessaire. Cela élimine :
Contamination de l'eau
Re-dépôt de particules
Processus de séchage
Étapes de nettoyage secondaires
Le processus est propre et respectueux de l’environnement.
La découpe traditionnelle enlève de la matière pour créer une rue découpée en dés. Cela réduit la surface utilisable de la tranche.
Stealth Dicing forme un plan de fracture interne sans enlever de matière, ce qui signifie :
Utilisation maximale des plaquettes
Nombre de puces plus élevé par tranche
Rentabilité améliorée
Parce qu’il n’y a pas de meulage ni de fusion superficielle :
Pas d'écaillage des bords
Aucune zone affectée par la chaleur
Aucune dégradation de la résistance
Résistance à la flexion supérieure
Ceci est particulièrement important pour les plaquettes ultrafines inférieures à 50 μm.
En éliminant les débris, les contraintes et les dommages thermiques :
La fiabilité de l'appareil s'améliore
Le rendement augmente
Les structures fragiles de la membrane MEMS restent intactes
Les métaux et les films de protection ne sont pas affectés
Les systèmes optiques avancés tels que le Laser Beam Adjuster (LBA) améliorent la mise en forme et le débit du faisceau.
De plus, SDBG (Stealth Dicing Before Grinding) permet le traitement de dispositifs ultra-fins en formant la couche SD avant l'amincissement.
Ces avancées améliorent considérablement la productivité pour la fabrication en grand volume.
| Article | Découpe de lame | Découpage en dés par ablation | Dés furtifs™ |
|---|---|---|---|
| Méthode de traitement | Meulage mécanique | Élimination des surfaces au laser | Modification laser interne |
| Eau de refroidissement | Requis | Requis | Non requis |
| Écaillage | Se produit | Peut se produire | Ne se produit pas |
| Zone affectée par la chaleur | Non | Oui | Non |
| Débris | Oui | Oui | Non |
| Perte de saignée | Oui | Oui | Aucun |
| Résistance des copeaux | Réduit | Réduit | Haut |
| Rendement | Modéré | Modéré | Haut |
| Convient aux plaquettes ultra fines | Limité | Risqué | Excellent |
| Convient aux MEMS | Risque de dommages | Risque de contamination | Idéal |
Les dés furtifs sont largement utilisés dans :
Capteurs MEMS aux structures membranaires fragiles
Périphériques de mémoire NAND et DRAM
Dispositifs à semi-conducteurs de puissance
Dispositifs logiques CMOS
Appareils optiques
Plaquettes avec films métalliques ou protecteurs
Emballages ultra-fins (<50 μm)
Cette technologie est particulièrement avantageuse pour les appareils de grande valeur et structurellement sensibles.
À mesure que la fabrication de semi-conducteurs évolue vers :
Emballage avancé
Architectures de chipsets
Intégration haute densité
Empilage de matrices ultra fin
Matériaux à large bande interdite (SiC, GaN)
La séparation des tranches sans dommage devient de plus en plus critique.
Stealth Dicing se positionne comme une technologie clé dans le traitement des semi-conducteurs de nouvelle génération.
Sa nature de procédé à sec soutient également les initiatives de fabrication respectueuses de l'environnement en réduisant la consommation d'eau et la production de déchets.
Stealth Dicing™ représente un changement de paradigme dans la technologie de séparation des tranches.
En remplaçant la découpe mécanique et l'ablation de surface par une modification interne au laser et une fracture contrôlée par la contrainte, il élimine l'écaillage, les débris, les dommages thermiques et la perte de saignée.
Le résultat est :
Résistance aux copeaux plus élevée
Rendement amélioré
Un traitement plus propre
Meilleure adaptation aux appareils ultra-fins et fragiles
Efficacité de fabrication améliorée
Pour les fabricants de semi-conducteurs qui recherchent une plus grande fiabilité, de meilleures performances et une meilleure rentabilité, Stealth Dicing constitue une solution puissante et évolutive.