Détails de produit
Place of Origin: CHINA
Nom de marque: ZMSH
Certification: rohs
Model Number: SiCOI Wafers
Conditions de paiement et d'expédition
Prix: by case
Delivery Time: 2-4weeks
Payment Terms: T/T
Size: |
4inch/6inch/8inch |
Surface Roughness: |
Ra<0.5nm |
Fracture Toughness: |
3.5 MPa·m¹/² |
CTE (4H-SiC): |
4.2×10⁻⁶/K |
Resistivity (SI): |
>1×10⁶ Ω·cm |
Application: |
Power electronics, radio frequency and 5G communication |
Size: |
4inch/6inch/8inch |
Surface Roughness: |
Ra<0.5nm |
Fracture Toughness: |
3.5 MPa·m¹/² |
CTE (4H-SiC): |
4.2×10⁻⁶/K |
Resistivity (SI): |
>1×10⁶ Ω·cm |
Application: |
Power electronics, radio frequency and 5G communication |
Résumé deDes plaquettes SiCOI
Les plaquettes SICOI (Carbure de silicium sur isolant) représentent une technologie de substrat composite avancée fabriquée par des procédés Smart CutTM ou Bonding & Thinning. ZMSH supply 4-6 inch 4H-SICOI wafers by integrating high-quality SiC thin films with insulating layers (SiO₂/AlN) on silicon or SiC substrates via hydrophilic bonding or plasma-activated bonding techniques. Processus Smart CutTM: utilise l'implantation d'ions hydrogène, la liaison à basse température et l'exfoliation de précision pour obtenir des couches de SiC ultra-minces (50 nm-20 μm) avec une uniformité d'épaisseur de ± 20 nm,idéal pour les hautes fréquences, les dispositifs à faible perte. Processus de broyage + CMP: adapté aux exigences de film plus épais (200 nm à des épaisseurs personnalisées) avec une uniformité de ± 100 nm, offrant une rentabilité pour les applications d'électronique de puissance. ZMSH fournit des films SiC conducteurs ou semi-isolateurs personnalisables,avec des options d'optimisation du recuit par implantation ionique ou d'amincissement/polissage direct pour répondre à diverses exigences de performance et de coût.
Composant | Les biens immobiliers | Spécification | Norme de mesure |
Film 4H-SiC | Structure cristalline | 4H-SiC monocristallin | Pour l'aéronef |
Densité des défauts | < 103 cm−2 (délocalisations du filetage) | ||
Roughness de surface (Ra) | < 0,5 nm | Mesure par AFM | |
Résistivité de semi-isolation | > 106 Ω·cm | Le nombre d'heures de travail | |
Plage de dopage de type N | 1016 à 1019 cm−3 | ||
Conductivité thermique | > 300 W/m·K | ||
Couche de SiO2 | Méthode de formation | Oxydation thermique | |
Constante diélectrique (ε) | 3.9 | Le nombre d'équipements utilisés est le suivant: | |
Intensité du champ de rupture | > 10 MV/cm | ||
Densité de piège d'interface | < 1011 cm-2eV-1 | ||
Si Substrate | Expansion thermique (CTE) | - 3,5 × 10 - 6 °C | |
Arche de gaufre (8 pouces) | < 50 μm | M1 du SEMI | |
Stabilité à la température | > 300°C | ||
Performance intégrée | Support de la taille de la gaufre | Formats de 4 à 8 pouces |
1électronique
Invertisseurs EV: Les MOSFET SiC sur des substrats SICOI fonctionnent à 1200V avec des pertes de commutation 30% plus faibles, compatibles avec les systèmes de charge rapide 800V.
Les plaquettes SICOI avec couches isolantes AlN améliorent la dissipation de chaleur de 50%, ce qui prend en charge un emballage de module > 10 kW.
2. Radiocommunications et 5G
Amplificateurs de puissance à ondes mm: les HEMT GaN sur SICOI semi-isolateur atteignent une sortie de 8 W/mm à 28 GHz avec un rendement > 65%.
Antennes à réseau de phases: faible perte diélectrique (tanδ<0,001) minimise l'atténuation du signal pour les communications par satellite.
3. L'informatique quantique et la détection
Spin Qubit Carriers: Les films SiC ultrafin (< 100 nm) fournissent des environnements à faible bruit, allant au-delà de 1 ms.
Capteurs MEMS à haute température: fonctionnement stable à 300 °C pour la surveillance des moteurs aérospatiaux.
4Électronique de consommation
IC à recharge rapide: Les dispositifs GaN basés sur SICOI permettent une recharge > 200W avec une empreinte réduite de 40%.
En tant que fournisseur leader de substrats semi-conducteurs à large bande passante, nous offrons un soutien technique de bout en bout, de la R&D à la production en série:
• Développement sur mesure: Optimiser l'épaisseur de la pellicule SiC (à l'échelle nanométrique jusqu'aux microns), le dopage (de type N/P) et les couches isolantes (SiO2/AlN/Si3N4) selon les exigences du dispositif.
· Consultation des processus: recommander des solutions Smart CutTM (haute précision) ou Grinding+CMP (coût-efficacité) avec des données comparatives.
· Tests au niveau des plaquettes: analyse de l'état de l'interface, cartographie de la résistance thermique et validation de la fiabilité à haute tension.
1. Q: Qu'est-ce que la galette SICOI?
R: La plaque SICOI (Silicon Carbide on Insulator) est un substrat composite avancé intégrant un film monocristallin 4H-SiC avec une couche isolante SiO2 sur une base silicium/saphir.permettant des dispositifs à haute puissance et à RF avec des performances thermiques/électriques supérieures.
2Q: Comment le SICOI se compare-t-il au SOI?
R: Le SICOI offre une conductivité thermique 5 fois plus élevée (> 300 W/m·K) et une tension de rupture 3 fois plus élevée (> 8 MV/cm) que le SOI, ce qui le rend idéal pour l'électronique de puissance 800V+ et les applications 5G mmWave.
Je ne sais pas.4 pouces 6 pouces 8 pouces# Personnalisé #Des plaquettes de 4H-SiCOIJe suis désolée.SiC composite sur des substrats isolants, #SiC, #SiO2, #Si