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8 pouces SiC Epitaxial Substrate MOS Grade Prime Grade 4H-N Type Grand diamètre

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8 pouces SiC Epitaxial Substrate MOS Grade Prime Grade 4H-N Type Grand diamètre

8inch SiC Epitaxial Substrate MOS Grade Prime Grade 4H-N Type Large Diameter
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Image Grand :  8 pouces SiC Epitaxial Substrate MOS Grade Prime Grade 4H-N Type Grand diamètre

Détails sur le produit:
Place of Origin: CHINA
Nom de marque: ZMSH
Certification: rohs
Model Number: 8inch SiC Epitaxial Wafer
Conditions de paiement et expédition:
Minimum Order Quantity: 25
Prix: by case
Packaging Details: package in 100-grade cleaning room
Delivery Time: 2-4 weeks
Payment Terms: T/T
Supply Ability: 1000pcs per month
Description de produit détaillée
Diameter: 200mm Thickness: 500 ±25μm
Epitaxial Thickness: 5-20μm (customizable) Surface Defect Density: ≤0.5/cm²
Electron Mobility: ≥1000 cm²/(V·s) Supported Devices: MOSFET, SBD, JBS, IGBT
Mettre en évidence:

Un substrat épitaxial de 8 pouces de SiC

,

8 pouces SiC épitaxial

,

8 pouces SiC MOS Grade

 

Résumé du produit des plaquettes épitaxiales en SiC de 8 pouces

 

 

Substrat épitaxial en SiC de 8 pouces, qualité MOS, qualité Prime, type 4H-N, grand diamètre

 

 

 

En tant que catalyseur essentiel de l'avancement des semi-conducteurs de troisième génération, nos plaquettes épitaxiales en SiC de 8 pouces réalisent des percées doubles en termes de performances des matériaux et d'efficacité de fabrication. Avec une surface utilisable 78 % plus grande (200 mm) par rapport aux plaquettes de 6 pouces et une densité de défauts 30 %. Adoptées par les principaux fabricants chinois, ces plaquettes alimentent désormais les véhicules électriques et les réseaux intelligents, favorisant la substitution nationale et la compétitivité mondiale.

 

 

 


 

Spécifications du produit des plaquettes épitaxiales en SiC de 8 pouces

 

 

Paramètre

 

Spécification

 

Diamètre

 

200 mm

 

Épaisseur

 

500 ±25μm

 

Épaisseur épitaxiale

 

5-20μm (personnalisable)

 

Uniformité de l'épaisseur

 

≤3%

 

Uniformité du dopage (type n)

 

≤5%

 

Densité des défauts de surface

 

≤0,5/cm²

 

Rugosité de surface (Ra)

 

≤0,5 nm (balayage AFM 10μm×10μm)

 

Champ de claquage

 

≥3 MV/cm

 

Mobilité des électrons

 

≥1000 cm²/(V·s)

 

Concentration de porteurs

 

5×10¹³~1×10¹⁹ cm⁻³ (type n)

 

Orientation cristalline

 

4H-SiC (hors axe ≤0,5°)

 

Résistivité de la couche tampon

 

1×10¹⁸ Ω·cm (type n)

 

Certification automobile

 

Conforme à la norme IATF 16949

 

Test HTRB (175°C/1000h)

 

Dérive des paramètres ≤0,5%

 

Dispositifs pris en charge

 

MOSFET, SBD, JBS, IGBT

 

 

 


 

Principales caractéristiques des plaquettes épitaxiales en SiC de 8 pouces

 

 

1. Innovation des procédés

  • Atteint un taux de croissance épitaxiale de 68,66μm/h (25 % plus rapide que les outils importés) via MOCVD domestique, avec <50μm de gauchissement grâce à une liaison à faible contrainte pour le découpage automatisé. Ce procédé à haut débit permet des cycles de production 20 % plus rapides par rapport aux méthodes conventionnelles.

 

2. Percées matérielles

  • La concentration de porteurs graduée (5×10¹³~1×10¹⁹cm⁻³) réduit le RDS(on) des MOSFET en SiC à 100 kHz).3. Robustesse environnementale

 

La passivation résistante à l'humidité maintient la stabilité électrique >1000h à 85°C/85 % HR, ce qui permet d'utiliser des systèmes de stockage d'énergie tropicaux. Cette performance est validée par les protocoles de test d'humidité MIL-STD-810G.

  • ​​

 

 

8 pouces SiC Epitaxial Substrate MOS Grade Prime Grade 4H-N Type Grand diamètre 0

 

 


 

Application de plaquettes épitaxiales en SiC de 8 pouces1. Q : ​​Quels sont les principaux avantages des plaquettes épitaxiales en SiC de 8 pouces ?​​

 

8 pouces SiC Epitaxial Substrate MOS Grade Prime Grade 4H-N Type Grand diamètre 1

Permet des onduleurs de traction de 800 V avec un rendement de 97 %, une puissance de crête de 350 kW et une autonomie de 1000 km.

  • 2. Recharge ultra-rapide

 

Intègre des modules en SiC de 1200 V dans des chargeurs refroidis par liquide pour une recharge de 600 kW/10 minutes et 500 km.

  • 3. Alimentation aérospatiale

 

Modules durcis aux radiations pour satellites (-55°C~200°C, 200W/in³), prenant en charge les missions en espace lointain.

  • 4. Informatique quantique

 

Fonctionnement stable à 4K dans les réfrigérateurs à dilution, prolongeant la cohérence des qubits >1000μs.

  • Recommandations de produits connexes

 

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1. Plaquettes épitaxiales en SiC de 2 pouces, 3 pouces, 4 pouces et 6 pouces, qualité de production 4H-N

 

2. Plaquette épitaxiale en SiC de 6 pouces, diamètre 150 mm, type 4H-N, type 4H-P pour la communication 5G

 

8 pouces SiC Epitaxial Substrate MOS Grade Prime Grade 4H-N Type Grand diamètre 3

 

 

 

 

 

FAQ de 

8 pouces SiC Epitaxial Substrate MOS Grade Prime Grade 4H-N Type Grand diamètre 4

 

 


 

plaquettes épitaxiales en SiC de 8 pouces1. Q : ​​Quels sont les principaux avantages des plaquettes épitaxiales en SiC de 8 pouces ?​​

 

 

R​​ : Les plaquettes épitaxiales en SiC de 8 pouces permettent une ​​plus grande densité de puissance​​ et des ​​coûts de fabrication plus faibles​​ par rapport aux plaquettes de 6 pouces, prenant en charge ​​150 % de puces en plus par plaquette​​ et ​​30 % de déchets de matériaux en moins​​.

2. Q : ​​Quelles industries utilisent les plaquettes épitaxiales en SiC de 8 pouces ?

 

 

​​ ​​ R​​ : Essentielles pour les ​​onduleurs de VE​​, les ​​onduleurs solaires​​ et les ​​stations de base 5G​​ en raison de la ​​conductivité thermique 10× plus élevée​​ et de la ​​bande interdite 3× plus large​​ que le silicium.

Tags : #Plaquette épitaxiale en SiC de 8 pouces,

 

 

 

#Substrat en carbure de silicium, #Diamètre 200 mm, #Épaisseur 500μm, #Type 4H-N, #Qualité MOS, #Qualité Prime, #Grand diamètre  

 
 

Coordonnées
SHANGHAI FAMOUS TRADE CO.,LTD

Personne à contacter: Mr. Wang

Téléphone: +8615801942596

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