Détails sur le produit:
Conditions de paiement et expédition:
|
Diameter: | 200mm | Thickness: | 500 ±25μm |
---|---|---|---|
Epitaxial Thickness: | 5-20μm (customizable) | Surface Defect Density: | ≤0.5/cm² |
Electron Mobility: | ≥1000 cm²/(V·s) | Supported Devices: | MOSFET, SBD, JBS, IGBT |
Mettre en évidence: | Un substrat épitaxial de 8 pouces de SiC,8 pouces SiC épitaxial,8 pouces SiC MOS Grade |
Substrat épitaxial en SiC de 8 pouces, qualité MOS, qualité Prime, type 4H-N, grand diamètre
En tant que catalyseur essentiel de l'avancement des semi-conducteurs de troisième génération, nos plaquettes épitaxiales en SiC de 8 pouces réalisent des percées doubles en termes de performances des matériaux et d'efficacité de fabrication. Avec une surface utilisable 78 % plus grande (200 mm) par rapport aux plaquettes de 6 pouces et une densité de défauts 30 %. Adoptées par les principaux fabricants chinois, ces plaquettes alimentent désormais les véhicules électriques et les réseaux intelligents, favorisant la substitution nationale et la compétitivité mondiale.
Paramètre
|
Spécification
|
Diamètre
|
200 mm
|
Épaisseur
|
500 ±25μm
|
Épaisseur épitaxiale
|
5-20μm (personnalisable)
|
Uniformité de l'épaisseur
|
≤3%
|
Uniformité du dopage (type n)
|
≤5%
|
Densité des défauts de surface
|
≤0,5/cm²
|
Rugosité de surface (Ra)
|
≤0,5 nm (balayage AFM 10μm×10μm)
|
Champ de claquage
|
≥3 MV/cm
|
Mobilité des électrons
|
≥1000 cm²/(V·s)
|
Concentration de porteurs
|
5×10¹³~1×10¹⁹ cm⁻³ (type n)
|
Orientation cristalline
|
4H-SiC (hors axe ≤0,5°)
|
Résistivité de la couche tampon
|
1×10¹⁸ Ω·cm (type n)
|
Certification automobile
|
Conforme à la norme IATF 16949
|
Test HTRB (175°C/1000h)
|
Dérive des paramètres ≤0,5%
|
Dispositifs pris en charge
|
MOSFET, SBD, JBS, IGBT
|
1. Innovation des procédés
2. Percées matérielles
La passivation résistante à l'humidité maintient la stabilité électrique >1000h à 85°C/85 % HR, ce qui permet d'utiliser des systèmes de stockage d'énergie tropicaux. Cette performance est validée par les protocoles de test d'humidité MIL-STD-810G.
Permet des onduleurs de traction de 800 V avec un rendement de 97 %, une puissance de crête de 350 kW et une autonomie de 1000 km.
Intègre des modules en SiC de 1200 V dans des chargeurs refroidis par liquide pour une recharge de 600 kW/10 minutes et 500 km.
Modules durcis aux radiations pour satellites (-55°C~200°C, 200W/in³), prenant en charge les missions en espace lointain.
Fonctionnement stable à 4K dans les réfrigérateurs à dilution, prolongeant la cohérence des qubits >1000μs.
R : Les plaquettes épitaxiales en SiC de 8 pouces permettent une plus grande densité de puissance et des coûts de fabrication plus faibles par rapport aux plaquettes de 6 pouces, prenant en charge 150 % de puces en plus par plaquette et 30 % de déchets de matériaux en moins.
2. Q : Quelles industries utilisent les plaquettes épitaxiales en SiC de 8 pouces ?
R : Essentielles pour les onduleurs de VE, les onduleurs solaires et les stations de base 5G en raison de la conductivité thermique 10× plus élevée et de la bande interdite 3× plus large que le silicium.
Tags : #Plaquette épitaxiale en SiC de 8 pouces,
#Substrat en carbure de silicium, #Diamètre 200 mm, #Épaisseur 500μm, #Type 4H-N, #Qualité MOS, #Qualité Prime, #Grand diamètre
Personne à contacter: Mr. Wang
Téléphone: +8615801942596