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Détails des produits

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Sic substrat
Created with Pixso. Substrats en carbure de silicium SiC semi-isolants de type 4H-N

Substrats en carbure de silicium SiC semi-isolants de type 4H-N

Nom De Marque: ZMSH
Numéro De Modèle: 4h-n
MOQ: 3pcs
Prix: by size and grade
Délai De Livraison: 1 à 4 semaines
Conditions De Paiement: T/T, Union occidentale
Informations détaillées
Lieu d'origine:
Chine
Certification:
CE
Matériels:
SIC en cristal
Taper:
4h-n
Pureté:
99,9995%
Résistivité:
0.015~0.028ohm.cm
Taille:
2-8inch 2inch, 3inch, 4inch, 6inch, 8inch
Application:
pour le SBD, MOS Device
TTV:
≤ 15um
Arc:
≤ 25um
Chaîne:
≤ 5um
Détails d'emballage:
boîte simple de conteneur de gaufrette ou boîte de la cassette 25pc
Capacité d'approvisionnement:
1000pc / mois
Mettre en évidence:

Substrats 4H-N SiC

,

Substrats SiC semi-isolants

Description de produit
Type 4H-N/ Substrats SiC semi-isolants – Plaquettes de carbure de silicium hautes performances pour l'électronique de puissance
Présentation du produit

Les substrats de type 4H-N et en carbure de silicium semi-isolant (SiC) sont des tranches monocristallines de haute pureté fabriquées à l'aide de la méthode de transport physique de vapeur (PVT). Ces substrats présentent des propriétés électriques et thermiques exceptionnelles, notamment des caractéristiques de large bande interdite, un champ électrique de claquage élevé et une conductivité thermique exceptionnelle. Idéals pour la croissance épitaxiale de matériaux SiC ou III-nitrure, ils servent de composants fondamentaux clés dans les dispositifs électroniques haute puissance, haute fréquence et haute température.

Principales fonctionnalités
  • Excellentes propriétés électriques:
    • Type 4H-N : Résistivité 0,015–0,028 Ω·cm
    • Type semi-isolant : Résistivité ≥10⁵ Ω·cm
  • Qualité géométrique supérieure:
    • Variation d'épaisseur totale (TTV) ≤ 15 µm
    • Arc ≤ 40 µm, Chaîne ≤ 60 µm
  • Contrôle précis de l'orientation:
    • Orientation sur l'axe : <±0,5°
    • Coupe hors axe : 4°±0,5° vers la direction [11-20]
  • Finition de surface contrôlée:
    • Surface polie standard : Ra ≤ 1 nm
    • Surface polie CMP : Ra ≤ 0,5 nm
Applications typiques
  • Électronique de puissance: Diodes à barrière Schottky (SBD), MOSFET, IGBT
  • Appareils RF et micro-ondes: Amplificateurs de puissance haute fréquence, MMIC
  • Optoélectronique: Substrats épitaxiaux LED et laser à base de GaN
  • Capteurs haute température: Applications dans les secteurs de l'automobile, de l'aérospatiale et de l'énergie

Substrats en carbure de silicium SiC semi-isolants de type 4H-N 0

Spécifications techniques
Paramètre Spécification Remarques
Diamètre de la plaquette 2 pouces (50,8 mm) / 4 pouces (101,6mm) Diamètres personnalisés disponibles
Épaisseur 330–500 µm (tolérance de ±25 µm) Épaisseur personnalisée sur demande
Précision d'orientation Sur l'axe <±0,5° ; Hors axe 4°±0,5° Vers [11-20]
Densité des microtuyaux Niveau zéro : ≤1 cm⁻² ; Qualité production : ≤5 cm⁻² Mesuré par microscopie optique
Rugosité de la surface Poli : Ra ≤ 1 nm ; CMP : Ra ≤ 0,5 nm Vérifié AFM
Contexte de la chaîne industrielle SiC

L'industrie du carbure de silicium englobe la préparation des substrats, la croissance épitaxiale, la fabrication de dispositifs et les applications finales. Grâce à la méthode PVT, des substrats SiC monocristallins de haute qualité sont produits, servant de base au dépôt épitaxial (via CVD) et à la fabrication ultérieure du dispositif. ZMSH fournit des plaquettes SiC de 100 mm et 150 mm qui répondent à des exigences industrielles strictes pour les applications haute puissance et haute fréquence.
Substrats en carbure de silicium SiC semi-isolants de type 4H-N 1

Foire aux questions (FAQ)

Q : Quelle est la quantité minimum de commande (MOQ) ?

A : Produits standards : 3 pièces ; Spécifications personnalisées : 10 pièces et plus.

Q : Puis-je demander des paramètres électriques ou géométriques personnalisés ?

R : Oui, nous prenons en charge la personnalisation de la résistivité, de l’épaisseur, de l’orientation et de la finition de surface.

Q : Quel est le délai de livraison typique ?

R : Articles standard : 5 jours ouvrables ; Commandes personnalisées : 2 à 3 semaines ; Spécifications particulières : ~4 semaines.

Q : Quelle documentation est fournie avec la commande ?

R : Chaque expédition comprend un rapport de test couvrant la cartographie de la résistivité, les paramètres géométriques et la densité des microtuyaux.

Balises:
SiCSubstrate #4H-SiC #SiliconCarbideWafer #PowerElectronics #Semiconductor #HighFrequencyDevices #WideBandgap #ZMSH