Nom De Marque: | ZMSH |
Numéro De Modèle: | 6 pouces 8 pouces 4H-SEMI SiC |
MOQ: | 25pc |
Prix: | by case |
Délai De Livraison: | en 30 jours |
Conditions De Paiement: | T/T |
Substrat SiC de type 4H-SEMI de qualité optique de 6 pouces et 8 pouces pour lunettes de réalité augmentée
Un substrat 4H-SiC de qualité optique révolutionnaire, conçu spécifiquement pour les lunettes de réalité augmentée, cultivé par Transport de vapeur physique (PVT) et affiné par polissage à l'échelle nanométrique et sciage à faible contrainte. Ce produit réalise la première solution d'affichage couleur complète à guide d'ondes monocouche au monde, répondant aux défis critiques de l'optique de réalité augmentée :
Ce substrat redéfinit les expériences de réalité augmentée légères et immersives, stimulant la prochaine génération de lunettes de réalité augmentée grand public.
1. Indice de réfraction élevé avec faible dispersion
2. Coefficient de dilatation thermique ultra-faible (CTE=3,7×10⁻⁶/K)
3. Planéité de surface à l'échelle nanométrique (Ra<0,2 nm)
4. Densité de défauts <0,04/cm² (8 pouces)
5. Capacité de production à grande échelle de 8 pouces
1. Guides d'ondes pour lentilles de réalité augmentée
2. Modules d'affichage Micro LED
3. Systèmes de stabilisation optique de réalité augmentée
4. Gestion thermique des lunettes intelligentes
Paramètres cristallins | |
Type | 4H |
Indice de réfraction a | >2,6 @550nm |
Absorptivité a | ≤0,5 % @450-650nm |
Transmission MP a (sans conditions antireflet) |
≥66,5 % |
Voile a | ≤0,3 % |
Polymorphisme a | Aucun autorisé |
Densité de microtubes | ≤0,5/cm² |
Densité de vides hexagonaux | Aucun autorisé |
Impureté Grain sur hexagonal a | Aucun autorisé |
Inclusion MP a | Aucun autorisé |
Paramètres mécaniques | |
Dia (pouces) | 6 |
Orientation de la surface | (0001)±0,3° |
Bord de référence de l'encoche | Encoche |
Orientation de l'encoche | <1-100>±2° |
Angle de l'encoche | 90±5°/1° |
Profondeur de l'encoche | 1 mm ±0,25 mm (-0 mm) |
Traitement de surface | Côté C-Si (CMP) |
Bord de la plaquette | Biseau |
Rugosité de surface (AFM) | Ra≤0,2 nm (zone de balayage de 5×5 µm) |
Épaisseur a (Tropel) | 500,0 µm ±25,0 µm |
LTV (Tropel) | ≤2 µm |
TTV a (Tropel) | ≤3 µm |
Flèche a (Tropel) | ≤5 µm |
Voile a (Tropel) | <15 µm |
1. Q : Quels sont les principaux avantages des substrats SiC pour les lunettes de réalité augmentée ?
R : L'indice de réfraction élevé (n=2,619@750nm) permet des guides d'ondes monocouches ultra-minces (FOV de 80°, éliminant les effets d'arc-en-ciel et les problèmes de poids dans les solutions en verre traditionnelles.
2. Q : Pourquoi choisir les substrats SiC de type 4H-SEMI plutôt que d'autres polytypes ?
R : 4H-SiC offre une stabilité thermique supérieure (CTE=3,7×10⁻⁶/K) et une densité de défauts <0,04/cm² (8 pouces), assurant la fiabilité dans les systèmes optiques haute puissance et l'évolutivité de la production de masse.
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