| Nom De Marque: | ZMSH |
| MOQ: | 50 |
| Délai De Livraison: | 2-4 SEMAINES |
| Conditions De Paiement: | T/T |
![]()
1. Introduction complète du produit
Le substrat en carbure de silicium (SiC) de 12 pouces (300 mm) représente la frontière actuelle de la technologie des semi-conducteurs à large bande interdite (WBG). Alors que l’industrie mondiale effectue une transition vers une efficacité et une densité de puissance plus élevées, cette plateforme cristalline de grand diamètre fournit la base essentielle pour l’électronique de puissance et les systèmes RF de nouvelle génération.
Principaux avantages stratégiques :
Offres de qualité de produit :
![]()
Carbure de silicium 4H-N (type conducteur)
Le polytype 4H-N est une structure cristalline hexagonale dopée à l’azote, connue pour ses propriétés physiques robustes. Avec une large bande interdite d’environ 3,26 eV, il offre :
Carbure de silicium 4H-SI (type semi-isolant)
Nos substrats SI se caractérisent par une résistivité exceptionnellement élevée et des défauts cristallins minimes. Ces substrats sont la plateforme préférée pour les dispositifs RF GaN-sur-SiC, offrant :
Notre processus de fabrication est intégré verticalement pour garantir un contrôle qualité total, de la matière première à la plaquette finie.
| Article | Production de type N | Factice de type N | Production de type SI |
|---|---|---|---|
| Polytype | 4H | 4H | 4H |
| Type de dopage | Azote (type N) | Azote (type N) | Semi-isolant |
| Diamètre | 300 ± 0,5 mm | 300 ± 0,5 mm | 300 ± 0,5 mm |
| Épaisseur (vert/trans) | 600/700 ± 100 µm | 600/700 ± 100 µm | 600/700 ± 100 µm |
| Orientation de la surface | 4,0° vers <11-20> | 4,0° vers <11-20> | 4,0° vers <11-20> |
| Précision d’orientation | ± 0,5° | ± 0,5° | ± 0,5° |
| Plat principal | Encoche / Rond complet | Encoche / Rond complet | Encoche / Rond complet |
| Profondeur d’encoche | 1,0 – 1,5 mm | 1,0 – 1,5 mm | 1,0 – 1,5 mm |
| Planéité (TTV) | ≤ 10 µm | S.O. | ≤ 10 µm |
| Densité de micropipes (MPD) | ≤ 5 ea/cm² | S.O. | ≤ 5 ea/cm² |
| Finition de surface | Prêt pour l’épi (CMP) | Meulage de précision | Prêt pour l’épi (CMP) |
| Traitement des bords | Chanfrein arrondi | Pas de chanfrein | Chanfrein arrondi |
| Inspection des fissures | Aucune (exclusion de 3 mm) | Aucune (exclusion de 3 mm) | Aucune (exclusion de 3 mm) |
Nous utilisons un protocole d’inspection en plusieurs étapes pour garantir des performances constantes dans votre chaîne de production :
R : En fournissant une surface beaucoup plus grande, vous pouvez fabriquer beaucoup plus de puces par plaquette. Cela réduit les coûts fixes de traitement et de main-d’œuvre par puce, ce qui rend vos produits semi-conducteurs finaux plus compétitifs sur le marché.
R : L’orientation à 4° vers le plan est optimisée pour une croissance épitaxiale de haute qualité, ce qui permet d’éviter la formation de polytypes indésirables et de réduire les dislocations du plan basal (BPD).<11-20>Q3 : Pouvez-vous fournir un marquage laser personnalisé pour la traçabilité ?
Q4 : Le grade factice convient-il au recuit à haute température ?