Détails de produit
Lieu d'origine: Chine
Nom de marque: ZMSH
Certification: rohs
Numéro de modèle: SiC fourche à doigts
Conditions de paiement et d'expédition
Prix: by case
Délai de livraison: 2-4weeks
Conditions de paiement: T/T
Density: |
3.21g/cm ³ |
Hardness: |
2500 Vickers hardness |
Grain Size: |
2~10μm |
Chemical Purity: |
99.99995% |
Heat Capacity: |
640J·kg-1 ·K-1 |
Thermal conductivity: |
300 (W/mK) |
Density: |
3.21g/cm ³ |
Hardness: |
2500 Vickers hardness |
Grain Size: |
2~10μm |
Chemical Purity: |
99.99995% |
Heat Capacity: |
640J·kg-1 ·K-1 |
Thermal conductivity: |
300 (W/mK) |
L'effecteur d'extrémité de manipulation des plaquettes, fabriqué avec une technologie d'usinage ultra-précise, atteint une précision dimensionnelle au niveau du micron (± 0,01 mm) et une stabilité thermique exceptionnelle (CTE ≤ 4,5 × 10 / 6 K).Sa surface est dotée d'une couche protectrice nanocristalline de SiC déposée en CVD (pureté > 99.995%), offrant une finition de surface supérieure (Ra<0,05 μm) et une résistance à l'usure (taux d'usure <0,1 μm/1000 cycles), tout en assurant un transfert de gaufre sans dommage à haute vitesse (1.5 m/s) avec une production minimale de particules (< 5 particules/ft3)Notre effecteur de fin recouvert de SiC de haute pureté démontre une stabilité de performance exceptionnelle à des températures extrêmes (-200°C~1200°C),une excellente uniformité thermique (±1°C@wafer de 150 mm) pour une épaisseur de croissance épitaxielle cohérente (±10,5%), et une résistance chimique remarquable (pH1-13), maintenant un fonctionnement fiable pendant > 100 000 cycles.
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1Une couche protectrice à l' échelle nanométrique de SiC via la technologie CVD
- déposé à l'aide d'un réacteur CVD à paroi chaude (1200°C) avec une taille de grain de 20 à 50 nm
- Densité de revêtement ≥ 3,18 g/cm3, porosité < 0,1%
2Stabilité à haute température et uniformité thermique exceptionnelles
- Maintient une conductivité thermique ≥ 120 W/m·K à 1000°C
- Déformation thermique < 0,02 mm/100 mm (certifié ASTM E228)
3. revêtement cristallin SiC ultra-fin pour une douceur au niveau atomique
- Slurry de diamants poli à Ra < 0,3 nm (vérifié par AFM)
- Coefficient de frottement de surface μ < 0,15 (par rapport aux plaquettes de silicium)
4Résistance chimique et durabilité au nettoyage
- Vitesse de gravure < 0,01 μm/cycle dans les solutions SC1/SC2
- Passe le test de purification de l'eau par l'ozone à 2000 cycles (80°C)
5. Conception structurelle exclusive empêchant les fissures/délamination
- Conception de la couche tampon de contrainte (transition du gradient SiC/Si)
- Résiste à 1000 cycles de choc thermique (de 196°C à 300°C) (conforme à la norme MIL-STD-883)
1. Processus d'interface des semi-conducteurs:
· Le transport des plaquettes dans les usines (AMHS)
· Chargement/déchargement des outils de lithographie
2Emballage avancé:
· Alignement de précision pour l'empilage des circuits intégrés à ventilation et 3D
· Traitement des plaquettes ultra fines (< 100 μm) pour les semi-conducteurs composés GaN/SiC
3Environnements sous vide:
· Transfert de plaquettes dans des chambres PVD/CVD
Catégorie | Spécification | Paramètres techniques |
Compatibilité des processus |
Transfert à grande vitesse | Prend en charge les plaquettes de 300 mm à ≥ 1,5 m/s, accélération 0,5 G |
Manipulation des plaquettes ultra fines | Prise sans contrainte de plaquettes de 50 μm (pilleur sous vide en option) | |
Compatibilité avec les salles blanches | Fonctionnement sans particules certifié SEMI S2/S8 | |
Types de matériaux |
CVD-SiC | Processus à très haute pureté (Ra<0,1μm), à nœuds ≤ 5 nm |
RBSiC | Efficacité par rapport aux coûts pour les applications d'emballage et d'essai | |
Aluminium revêtu de SiC | Composites légers pour les procédés non critiques | |
Fonctions de base |
Remplacement traditionnel de l'effetur final | Élimine la déformation/contamination thermique (par rapport au quartz/aluminium) |
Alignement de précision | La valeur de l'équipement doit être supérieure ou égale à la valeur de l'équipement. | |
Réduction de la rupture | Taux de rupture < 0,001%, améliore l'OEE |
ZMSH est un fournisseur de premier plan de solutions de manutention de wafers en carbure de silicium (SiC) de haute performance, spécialisée dans les plaques porteuses de précision et les effetors finaux pour la fabrication de semi-conducteurs.Nos composants SiC avancés sont dotés de revêtements CVD ultra-purs avec une rugosité de surface inférieure à 0.1μm Ra, assurant un fonctionnement exempt de particules dans les environnements de salle blanche de classe 1. Les produits démontrent une stabilité thermique exceptionnelle, en maintenant une précision dimensionnelle de ± 0.03 mm à travers une plage de température extrême de -200°C à 1300°C, avec des coefficients de dilatation thermique aussi bas que 4,1 × 10−6/K.
1Q: Quels sont les effets finaux dans la manutention des matériaux?
R: Les effets de fin sont des dispositifs spécialisés attachés à des bras robotiques qui interagissent directement avec des matériaux ou des produits et les manipulent pendant les opérations de manutention.
2Q: À quoi servent les effecteurs finaux?
R: Ils sont utilisés pour saisir, soulever, transférer ou positionner avec précision des objets dans des systèmes automatisés, en particulier dans la fabrication et la logistique.
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