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Bon prix Substrat SiC de type 4H-N, plaquette de 10x10mm pour l'électronique de puissance en ligne
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2 pouces 4 pouces 6 pouces Sic Substrate de carbure de silicium 6H Type dopé haute P hors axe 4,0° vers le haut

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Wafer de carbure de silicium Sic Substrate 4H-P Type hors axe 4,0° vers zéro Grade pour capteur de température

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Wafer en carbure de silicium de type 4H-P sur axe 0°Utilisé pour la fabrication de dispositifs de haute puissance

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2 pouces / 4 pouces / 6 pouces Sic Carbure de silicium Substrate 4H-P Type hors axe 2,0° vers la qualité de production

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4H-N Silicium carbure SiC Substrate 2 pouces 3 pouces 4 pouces 6 pouces 8 pouces 12 pouces Prime Grade Dummy Grade

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2 pouces/4 pouces/6 pouces/5,0*5,0 mm/10,0*10,0 mm Sic Substrate au carbure de silicium Type 3C-N Sur l'axe: < 111 > ± 0,5° Grade de production Grade factice

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2 pouces de silicium carbure de silicium 6H faible résistance type dopé à haute teneur en P diamètre 50,8 mm

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Substrat 3C-SiC de type N, qualité produit pour les communications 5G

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CVD SiC épitaxy Wafer 2 pouces 3 pouces 4 pouces 6 pouces épaisseur épitaxy 2,5 à 120 um pour l' électronique

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Plaquette épitaxiale SiC de type 4H-N de 2 pouces de diamètre (50,8 mm) pour capteurs haute température

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2 pouces 4 pouces 6 pouces 8 pouces 5 × 5 mm 10 × 10 mm 4 H-SiC Substrats 3C-N Type MOS Grade

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6 pouces Sic Substrate de carbure de silicium 4H-P Diamètre 150 mm Épaisseur 350 μm Zéro MPD Production, qualité de production standard

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